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150T
創建時間:2018-05-21 17:00
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iEDX-150T鍍層測厚儀

ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
采用非真空樣品腔;
專業用于PCB電鍍鍍層分析、電路板鍍層膜厚分析測試及鍍層測厚;
采用多種光譜擬合分析處理技術;
可同時分析鍍層中的合金成份比列。

善時儀器

手  機: 18589082047

電     話 :  0755-23347785

傳  真: 0755-27205042

郵    箱: sales@sense.cc

地  址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

 

 

應用領域

 iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域

 

技術指標

多鍍層分析,1~5層

測試精度:0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測量時間:10~30秒

SDD探測器,能量分辨率為125±5eV

探測器Be窗0.5mil(12.7μm)

微焦X射線管50KV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶)

6個準直器及多個濾光片自動切換

 XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤

 高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸:618×525×490mm

樣品臺尺寸:250×220mm

樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm

 

圖譜界面

軟件支持無標樣分析

超大分析平臺和樣品腔

集成了鍍層界面和合金成分分析界面

采用多種光譜擬合分析處理技術

鍍層測厚分析精度可達到0.001μm

 

分析報告結果

直接打印分析報告
報告可轉換為PDF,EXCEL格式

 

樣品分析圖譜:

 

150T樣品分析圖譜

 

測試結果界面:

 

150T測試結果

 

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